加速寿命试验箱
发布日期：2020/11/5 14:34:50 点击次数：5887
加速寿命试验箱广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
产品特点
智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置与 饱和蒸汽压力检知
白金温度传感器（PT-100型）感知精确 温度
圆形棋置式内箱结构设计，方便待测样品 取置与蒸汽冲击隔离装置
专利自动压力安全门闩锁控制装置
全自动真空清洁程序，减低试品污染
另可扩充功能：记录温湿度/压力
性能技术指标
|
型号
|
TY-HAST-40
|
|
测试箱尺寸(φ*D)mm
|
400
X 500
|
|
外箱尺寸(W*H*D)mm
|
709
X 950 X 1674
|
|
温度控制范围
|
100°C-135°C
|
|
温度波动范围
|
±0.5°C
( 85°C~135°C/100%RH )
|
|
湿度控制范围
|
65%RH~100%RH
|
|
湿度波动范围
|
±3%RH
|
|
最大压力
|
0.019-0.208MPa
|
|
电源
|
220VAC ±10%, 50HZ, 20A
|
|
符合标准
|
GB;
ISO; ASTM; ULCEN--
|
相关产品
